射线荧光镀层度测量仪FT150 FT150h FT150L

镀层测厚仪FT150

使用新开发的X射线聚光用多毛细管的产品阵容诞生了。另外，以X射线检测结构为中心，对各类元件进行较佳优化，从而大幅提高了检测灵敏度，在不损失检测精度的前提下实现了的高处理能力。并且，对设备进行了重新设计，使得样本室的使用，以及对检测点的检查变得更为容易。

射线荧光镀层度测量仪FT150 FT150h FT150L

X射线荧光镀层度测量仪FT150系列

型号

FT150（标准型）

FT150h（高能量型）

FT150L（大型线路板对应）上海楹点公司供应

测量元素    原子序数13（Al）～92（U）    

使用新开发的X射线聚光用多毛细管的产品阵容诞生了。另外，以X射线检测结构为中心，对各类元件进行较佳优化，从而大幅提高了检测灵敏度，在不损失检测精度的前提下实现了的高处理能力。并且，对设备进行了重新设计，使得样本室的使用，以及对检测点的检查变得更为容易。

 

 

 

 

特长

1．显微领域的高精度检测

通过采用新开发的多毛细管，以及对探测器的优化，在实现照射半径等同于旧有型号FT9500X为30 μm（设想FWHM： 17 μm）的基础上，进一步将处理能力提高到了2倍以上。

2．产品阵容适应各类检测样本

针对检测样本的不同种类，可在下列3种型号中进行选择。

测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型号

能够处理尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型号

适合对陶瓷芯片电极部分中，过去难以同时测量的Sn/Ni两层进行高能测量的型号

3．兼顾易操作性与安全性

放大了开口，同时样本室的门也可单手轻松开闭。从而提高了取出、放入样本的操作简便性，并且该密封结构也大大减少了X射线泄漏的风险，让用户放心使用。

4．检测部位可见

通过设置大型观察窗、修改部件布局，使得样本室门在关闭状态下亦可方便地观察检测部位。

5．清晰的样本图像

使用了分辨率比以往更高的样本观察摄像头，采用全数码变焦，从而位置偏差，可以清晰地观察数十μm的微小样本。
另外，亦采用LED作为样本观察灯，无需像以往的机型那样对灯泡进行更换。

6．新GUI

将各类检测方法、检测样本都以应用程序图标的形式进行了登记。图标皆为检测样本的照片、多层膜的图示等，因此登记、整理起来就很方便，从而使得用户可以不走弯路，直接进行检测。

使用检测向导窗口来指导操作。通过与检测画面联动，逐步引导用户执行当前所需进行的工作。

规格

型号	FT150（标准型）	FT150h（高能量型）	FT150L（大型线路板对应）
测量元素	原子序数13（Al）～92（U）
X射线源	管电压：45 kV
	Mo靶	W靶	Mo靶
检测器	Si半导体检测器（SDD）（无需液氮）
X射线聚光	聚光导管方式
样品观察	CCD摄像头（100万像素）
对焦	激光对焦、自动对焦
较大样品尺寸	400(W) × 300(D) × 100(H) mm	400(W) × 300(D) × 100(H) mm	600(W) × 600(D) × 20(H) mm
工作台行程	400(W) × 300(D) mm	400(W) × 300(D) mm	300(W) × 300(D) mm
操作系统	电脑、22英寸液晶显示屏
测量软件	薄膜FP法（较多5层膜、10元素）、检量线法、定性分析
数据处理	Microsoft Excel、Microsoft Word 安装
安全功能	样品门联锁
消耗电量	300 VA以下

选购项

能谱匹配软件（材料辨别）

块体FP（测量金属成分比）

样品操作限制设置

晶圆治具（FT150／FT150h）

触摸板

信号灯

打印机

紧急停止开关箱