HS PA30-E超声波相控阵检测仪

HS PA30-E超声波相控阵检测仪

HS PA30-E是一款全聚焦相控阵检测仪，能够满足更加复杂的相控阵检测需求。

产品概述

HS PA30-E是一款全聚焦相控阵检测仪，支持64阵元全聚焦，能够满足更加复杂的相控阵检测需求，检测数据实时分析。       

可适配2组TOFD通道，支持双相控阵TOFD一体成像，可一次性扫查覆盖100mm厚度的焊缝。 

功能特点

●支持64阵元实时TFM全聚焦扫查成像功能	●支持多路视频显示信号输出到不同屏幕显示，并可操控反馈
●聚焦法则可支持多组PA扫查方式，同时扫描成像	●双轴编码器接口，支持二维腐蚀C扫和轮式探头检测
●提供双TOFD通道功能，支持双相控阵TOFD一体成像（PAUT）	●可扩展视频实时监控功能
●具备双线阵（DLA）、双面阵（DMA）奥氏体不锈钢检测功能	●支持高速网络传输，数据可实时上传下载

技术参数

参数分类	参数选项	相控阵通道	常规通道
PA/UT配置	接收/发射	32/128  32/64可选	4通道TOFD(2对一发一收)
脉冲发生器	脉冲电压	50V-100V连续可调	100V-350V连续可调
	脉冲方式	负方波	负方波
	脉冲宽度	30ns~500ns/2.5ns	30ns~500ns/2.5ns
	脉冲上升时间	<8ns	<15ns
	脉冲重复频率	200Hz -20KHz	200Hz -1KHz
	延迟	0-20us/2.5ns	0-655us/10ns
	发射阻抗	/	500/25Ω
	增益范围	0~80dB	0~110dB
	系统带宽	0.5-20MHz	0.5-15MHz
	接收延迟	50us/2.5ns	/
数据采集	采样率	100MHz/10bit	200MHz/10bit
	A扫长度	8192	2048
	聚焦模式	常规/动态/全范围	/
	聚焦类型	深度、声程、水平	/
扫描与显示	检波	全检波、正检波、负检波、射频	全检波、正检波、负检波、射频
	扫描类型	扇扫/线扫/复合扫	/
	显示模式	A/B/C/L/S/3D	A/B/C
可编程TCG	点的数量	32个	/
	增益量	40 dB，步距为0.1 dB	/
	增益斜率	40 dB/us	/
数据存储	固态硬盘	256GB
显示器	尺寸	10.1"
	分辨率	1280x800
	触摸屏类型	电容式触摸屏
I/O接口	USB	USB3.0/ USB2.0
	以太网	1000Mb/s
	视频输出	HDMI
	编码器	ODU-7PIN双路编码器
语言		中文/英文
电源	直流供电电压	24V/3.75A
	电池	11.1V-17Ah
	连续工作时间	不低于4小时
整机重量	整机不带电池3.6kg，电池900g
整机尺寸	340mmx230mmx100mm

应用

板材、管材、焊缝的全聚焦相控阵检测

具备2×32双线阵、双面阵奥氏体不锈钢检测功能

更适用于较复杂的结构或材料的全聚焦相控阵检测，如PE管电、热熔焊、钢骨架PE管电熔焊、复合材料、TKY对接焊缝、法兰、叶片等